所有作者：田瑞利 许良军 王东
作者单位：北京邮电大学电接触科研室
论文摘要：尘土污染是造成手机机电元件电接触故障的主要原因之一。尘土进入手机是影响手机可靠性的前提，对于手机类接口较小的设备，尘土并不容易直接进入，振动和接口尺寸结构是影响此类设备尘土进入的主要因素。本文主要研究了尘土量与振动的关系，通过振动试验得到尘土的进入量随时间的增加先上升后下降，即尘土的进入量随着时间的增加先增多后减少，进而对结果进行多元非线性回归拟合，得出手机接口内部尘土量与振动的关系可以用二元高斯函数来表征。
关键词： 尘土污染 尘土进入 振动 非线性回归 高斯拟合
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