集成电路芯片测试仪的设计

论文发布时间：[2010-03-22] 范文大全编辑：Voive.net

所有作者：张课刘绕龙

作者单位：中国矿业大学信息与电气工程学院

论文摘要：本设计采用基于美国Cygnal公司的高性能单片机C８０５１F０２０的设计方案，主要由检测电路、控制电路、键盘部分和点阵液晶显示模块等组成。它能对７４系列集成芯片的逻辑功能进行测试，以确定芯片的好坏和型号，通过液晶显示器显示结果。在测试过程中，单片机接收来自键盘的被测芯片的信息，然后向被测芯片发出信号，将被测芯片的输出信号与单片机存储器内各种芯片的真值表做比较，从而判断出芯片的型号和好坏，同时在显示器上显示相应信息。

关键词：单片机集成芯片模块

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