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衬底温度对MOCVD法制备的Sb掺杂ZnO薄膜的光学和电学特性的影响

论文发布时间:[2010-03-22]    范文大全    编辑:Voive.net

所有作者:李硕石 程轶 梁红伟 杜国同

作者单位:大连理工大学物理与光电工程学院

论文摘要:采用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)法,于不同衬底温度下在c面蓝宝石衬底上制备了Sb掺杂的ZnO薄膜,并对薄膜进行了X射线衍射(XRD),霍尔(Hall)测试和光致发光(PL)测试。XRD测试结果表明,温度在500℃至550℃之间时,ZnO薄膜的结晶质量随着衬底温度的升高而提高,当衬底温度进一步升高时,结晶质量开始下降。Hall测试和PL谱测试结果表明,衬底温度为550℃的样品具有最好的电学和光学性质。

关键词: 衬底温度 Sb掺杂 金属有机物化学气相沉积

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